back

Установка для автоматического тестирования лазерных диодов, модель DBT-1200

Производитель JFP Microtechnic
Модель: DBT-1200

Описание

Размеры кристалла: от 250x250 мкм
Толщина: от 75 мкм

Особенности системы:

Размещение тестируемых устройств на четырех упаковках типа GelPacks
Двойные фото-сенсоры (фото-сферы)
Два тестовых зажима для увеличения производительности
Устройство для выполнения калибровки
Система автоматического центрирования
Интерфейс для связи с тестовым модулем
Тестовые данные для сортировки
Запись параметров процесса тестирования

Остальное оборудование для тестирования полупроводниковых пластин Вы можете просмотреть в нашем каталоге.

Спецификация

Размеры кристалла:
от 250x250 мкм
Толщина: от 75 мкм
Перемещение по оси Z с дополнительным изменение угла наклона
Программирование точек захвата и контакта
Управление посредством джойстика
Захват компонента посредством вакуума
Два LCD-дисплея (контроль над установкой пластины и проведением испытаний)
Система регулируемой подсветки
Электропитание: 220 В
Пневмопитание: 5 Бар
Вакуум: 60%